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ECR플라즈마 工程에 의해 製造된 無定型 실리콘 薄膜과 실리콘 酸化薄膜의 特性 = Characteristics of the a-Si:H and SiO2 thin films prepared by ECR plasma processes
ECR플라즈마 工程에 의해 製造된 無定型 실리콘 薄膜과 실리콘 酸化薄膜의 特性 = Characteristi...
ECR플라즈마 工程에 의해 製造된 無定型 실리콘 薄膜과 실리콘 酸化薄膜의 特性 = Characteristics of the a-Si:H and SiO2 thin films prepared by ECR plasma processes
자료유형  
 학위논문
청구기호  
570 전44ㅇ
저자명  
전법주
서명/저자  
ECR플라즈마 工程에 의해 製造된 無定型 실리콘 薄膜과 실리콘 酸化薄膜의 特性 = Characteristics of the a-Si:H and SiO2 thin films prepared by ECR plasma processes / 全法柱
발행사항  
서울 : 檀國大學校 大學院, 1997.
형태사항  
250 p. ; 26 cm.
학위논문주기  
학위논문(박사) - 檀國大學校 大學院 : 化學工學科 化學工學專攻, 1997
키워드  
ECR플라즈마 공정 의해 제조 무정형 실리콘 박막 산화 특성 ECR플라즈마 工程에 의해 製造된 無定型 실리콘 薄膜과 실리콘 酸化薄膜의 特性 Characteristics of the a-Si:H and SiO2 thin films prepared by ECR plasma processes
가격  
비매품
Control Number  
kpcl:44197
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