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1 Results:SS:테스트 AA:정준모 PP:대한전자공학회 0.55 sec.
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System-On-a-ChipSOC에 대한 효율적인 테스트 데이터 압축 및 저전력 스캔 테스트 = Low power scan testing and test data compression for system-On-a-Chip
System-On-a-ChipSOC에 대한 효율적인 테스트 데이터 압축 및 저전력 스캔 테스트 = Low power scan testing and test data compression for system-On-a-Chip
정준모 대한전자공학회, 2002,
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