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극소전기영동 측정에 의한 n-Type 실리콘-전해질 접촉 경계면의 전기이중층에 관한 연구 선택
극소전기영동 측정에 의한 n-Type 실리콘-전해질 접촉 경계면의 전기이중층에 관한 연구
주경진
광운대학,
1987,
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Status Info
등록번호
별치/청구기호
소장처
대출여부
대출정보
AM000717
TM
-
569.4 주14ㄱ '87
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