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Efficient test data compression and low power scan testing in SoCs
Efficient test data compression and low power scan testing in SoCs
상세정보
- 자료유형
- 교내논문
- 청구기호
- KM70 정준모
- 저자명
- 정준모
- 서명/저자
- Efficient test data compression and low power scan testing in SoCs / 정준모
- 발행사항
- 서울 : ETRI Journal, 2003
- 형태사항
- 책 p. ; 24 cm
- 총서명
- ETRI Journal ; 제25권 제5호
- 원문파일
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- Control Number
- kpcl:135465
MARC
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| Reg No. | Call No. | emplacement | Status | Lend Info |
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| KM000070 | KM70 정준모 | 전자도서관 | 대출불가 |
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