서브메뉴
검색
System-On-a-ChipSOC에 대한 효율적인 테스트 데이터 압축 및 저전력 스캔 테스트 = Low power scan testing and test data compression for system-On-a-Chip
System-On-a-ChipSOC에 대한 효율적인 테스트 데이터 압축 및 저전력 스캔 테스트 = Low power scan testing and test data compression for system-On-a-Chip
- 자료유형
- 교내논문
- 청구기호
- KM34 정준모
- 저자명
- 정준모
- 서명/저자
- System-On-a-ChipSOC에 대한 효율적인 테스트 데이터 압축 및 저전력 스캔 테스트 = Low power scan testing and test data compression for system-On-a-Chip / 정준모 ; 정정화
- 발행사항
- 서울 : 대한전자공학회, 2002.
- 형태사항
- 10 p. ; 24 cm.
- 총서명
- 전자공학회논문지 ; 제39권 제12호
- 기타저자
- 정정화
- 원문파일
- :: 로그인 후 이용바랍니다. ::
- Control Number
- kpcl:118788