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System-On-a-ChipSOC에 대한 효율적인 테스트 데이터 압축 및 저전력 스캔 테스트 = Low power scan testing and test data compression for system-On-a-Chip
System-On-a-ChipSOC에 대한 효율적인 테스트 데이터 압축 및 저전력 스캔 테스트 = Low power s...
System-On-a-ChipSOC에 대한 효율적인 테스트 데이터 압축 및 저전력 스캔 테스트 = Low power scan testing and test data compression for system-On-a-Chip

상세정보

자료유형  
 교내논문
청구기호  
KM34 정준모
저자명  
정준모
서명/저자  
System-On-a-ChipSOC에 대한 효율적인 테스트 데이터 압축 및 저전력 스캔 테스트 = Low power scan testing and test data compression for system-On-a-Chip / 정준모 ; 정정화
발행사항  
서울 : 대한전자공학회, 2002.
형태사항  
10 p. ; 24 cm.
총서명  
전자공학회논문지 ; 제39권 제12호
키워드  
SYSTEMONACHIPSOC에 대한 효율 적인 테스트 데이터 압축 저전 스캔
기타저자  
정정화
원문파일  
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Control Number  
kpcl:118788

MARC

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